Mikroskopy

Buyer Name
POLITECHNIKA GDAŃSKA
Total no. of suppliers
1
Supplier name
KONSORCJUM FEI_LABSOFT 01/02/2012/LABSOFT UL WANTULE 12,02-828 WARSZAWA, FEI: P.O. BOX 80066, 5600 KA EINDHOVEN, BUILDING AAE, ACHTSEWEG NOORD 5 HOLANDIA

Description

1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja sterowanego cyfrowo i manualnie, skaningowego mikroskopu elektronowego o wysokiej rozdzielczości wyposażonym w działo elektronowe z termiczną emisją polową (emiter Schottky'ego) z urządzeniami spełniającymi wymienione poniżej właściwości oraz funkcje oraz kompatybilnymi z całością akcesoriami zwany dalej zestawem lub mikroskopem.
1) Rozdzielczość obrazów elektronów wtórnych na standardowej próbce ziaren złota na błonie węglowej (gwarantowana w miejscu instalacji);
a) w warunkach wysokiej próżni dla napięcia przyspieszającego 30kV nie mniejsza niż 1,3 nm;
b) w warunkach niskiej próżni dla napięcia przyspieszającego 30kV nie mniejsza niż 1,5 nm.
2) Rozdzielczość obrazów elektronów wstecznie rozproszonych przy napięciu przyspieszającym 30kV na standardowej próbce ziaren złota na błonie węglowej (gwarantowana w miejscu instalacji) nie mniejsza niż 2,5 nm w niskiej próżni. 3) Mikroskop wyposażony przynajmniej w następujące detektory obrazowe:
a) detektor elektronów wtórnych do pracy w trybie wysokiej próżni,
b) detektor (lub detektory) elektronów wtórnych przystosowane do pracy w pełnym zakresie trybu niskiej próżni działający (działające) na zasadzie detekcji elektronów wtórnych, c) detektor elektronów wstecznie rozproszonych.
4) Mikroskop umożliwiający pracę w warunkach zmiennej próżni. Wymagany układ, w którym wartość ciśnienia gazu w komorze preparatowej wynosi:
a) w warunkach pracy w wysokiej próżni mniej niż 10-2 Pa
b) w warunkach pracy w niskiej próżni co najmniej 300 Pa.
5) Czas uzyskania próżni o poziomie nie mniejszym niż 3x10-2Pa od poziomu ciśnienia 105 Pa nie większy niż 200s.
6) Możliwość zmiany powiększenia z zakresie do 1 000 000 razy.
7) Możliwość podglądu próbek w małych powiększeniach (minimalne powiększenie rzędu 4 razy) bądź wbudowana kamera umożliwiająca podgląd podstawek oraz próbek. 8) Zapewnienie stabilności wiązki (w krótkim okresie czasu fluktuacje < 0.2 %/10 min i w długim okresie czasu < 1 %/10 godz.)
9) Napięcie przyspieszające zmienne co najmniej w zakresie od 200V do 30kV 10) Prąd wiązki elektronowej co najmniej do 200 nA.
11) Możliwość wykonania badań przy deakceleracji wiązki elektronowej pozwalającej na regulację energii elektronów padających na powierzchnię preparatów przewodzących lub częściowo przewodzących. Zestaw musi być wyposażony w taki detektor wraz z niezbędnym oprzyrządowaniem aby zapewnił wykonywanie badań przy deakceleracji wiązki elektronowej pozwalającej na regulację energii elektronów padających na powierzchnię próbek metali i półprzewodników
12) Stolik goniometryczny o minimalnych wartościach przesuwu w osi:
a)
X 50 mm,
b) Y 50 mm,
c) Z 25 mm;
d) posiadający możliwość obrotu o kąt pełny (3600)
e) możliwość zmiany kąta nachylenia stolika w minimum od -150do +750.
13) System mikroskopu wyposażony w dwa 19cal monitory LCD
14) 2 komputery z systemem operacyjnym wraz z kompatybilnym oprogramowaniem do analizy uzyskanych wyników, oraz możliwością zapisu obrazu w standardowych plikach graficznych TIFF, BMP lub.
JPEG o rozdzielczości zapisywanego obrazu – minimum 3 000 na 3 500 pikseli każdy. Jeden wyposażony w monitor co najmniej 30 cali.
15) Układ filtracji i podtrzymania napięcia zasilającego: a) posiadający całkowite zabezpieczenie przed przepięciami i krótkotrwałymi zanikami napięcia b) umożliwiający podtrzymanie pracy mikroskopu przez co najmniej 3 minut (po tym czasie bezpieczne zapewniający włączenie ręczne lub automatyczne trybu podtrzymania pracy działa mikroskopu) – UPS.
16) Współpracujący z mikroskopem rentgenowski spektrometr z dyspersją energii (EDS) umożliwiający detekcję pierwiastków o większej liczbie atomów niż węgiel.
17) Detektor nie wymagający chłodzenia ciekłym azotem spektrometru EDS o aktywnej powierzchni co najmniej 10 mm2 posiadający zdolność rozdzielczą 132 eV lub lepszą (specyfikowaną dla linii Mn Kα).
18) Spektrometr EDS zapewniający możliwość rejestracji promieniowania rentgenowskiego:
a) z punktu;
b) z wybranego obszaru zredukowanego;
c) z całego obszaru skanowanego wiązką elektronową;
d) wzdłuż dowolnie poprowadzonej linii (linescan),
e) uzyskiwania map rozkładu pierwiastków.
19) Układ próżniowy sterowany w sposób całkowicie automatyczny i na bieżąco monitorowany na wypadek jakiejkolwiek niesprawności bądź awarii, włącznie z gwałtowną utratą próżni w kolumnie mikroskopu. Wymagany układ bazujący na pompie turbomolekularnej.
20) Mikroskop wyposażony być ma w system kontroli dostępu dla użytkowników różnych szczebli z automatycznym dostosowaniem interfejsu użytkownika dla tych poziomów uprawnień. 21) Mikroskop oraz wszystkie zintegrowane układy powinny posiadać połączenie zapewniające ochronę przed niepowołaną ingerencją ze strony osób postronnych oraz niebezpiecznego oprogramowania, np. wirusy, spyware itp. 22) Mikroskop powinien posiadać dodatkowy panel manualnego sterowania parametrami mikroskopu/obrazu, takimi jak: nastawa ostrości, powiększenie, kontrast, jasność, przesuwy wiązki i korekcja astygmatyzmu i wyposażony w joystick lub w trackball.
23) Trzy katody zapasowe jako wymienne źródło elektronów w mikroskopie.
24) Napylarka umożliwiająca napylanie zarówno warstw metali jak i węgla z pompą turbomolekularną w układzie próżniowym, umożliwiająca kontrolę grubości napylanej warstwy.
25) Zestaw podstawek pod próbki wraz ze stolikiem mocującym na minimalnie 6 podstawek.
26) Dwustronne taśmy do mocowanie próbek: przewodzące węglowa oraz miedziana o długości po 40 metrów bieżących każda.
27) 24 miesięczna gwarancja producenta na wszystkie elementy systemu liczona od daty podpisania protokołu odbioru bez zastrzeżeń, z serwisem w siedzibie Zamawiającego.
28) Szkolenie w j. polskim lub angielskim dla minimum 4 pracowników Zamawiającego z obsługi urządzenia trwające minimum 3 dni i obejmujące wszystkie elementy wchodzące w układ mikroskopu, przeprowadzone w miejscu instalacji urządzenia.
29) Wymagania dodatkowe (za zaoferowanie poniższych rozwiązań oferta może uzyskać - dodatkowo pkt – doposażenie jest drugim obok ceny kryterium oceny ofert, maksymalnie oferta może uzyskać w kryterium przedmiotowym 60 pkt, w kryterium Cena – 40 pkt)
a) Mikroskop umożliwiający pracę w warunkach zmiennej próżni, przy czym wartość ciśnienia gazu w komorze mikroskopu w warunkach niskiej próżni powinno osiągać co najmniej 4000 Pa. (9 pkt)
b) Wyposażenie w wysokoczuły detektor na ruchomym ramieniu umożliwiający obrazowanie przy niskich napięciach przyspieszających. (5 pkt)
c) Gazowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych, ograniczający rozpraszanie wiązki i poprawiający jakość obrazowania w przypadku próbek słabo przewodzących. (5 pkt)
d) Zintegrowany układ do plazmowego czyszczenia komory pomiarowej. (7 pkt)
e) Wyposażenie komputera w oprogramowanie do obróbki wyników EDS. (2 pkt)
f) Stolik grzewczy umożliwiający dynamiczne bezpośrednie obserwacje w komorze preparatu, próbek wygrzewanych do temperatury minimum.
10 000C z kontrolerem. (9 pkt)
g) Stolik chłodzący Peltier – dostarczany wraz z układem wymienionym w f) (4 pkt)
h) Wyposażenie mikroskopu w dodatkowy detektor wewnątrzsoczewkowy elektronów wtórnych. (4 pkt)
i) Wyposażenie mikroskopu w dodatkowy detektor wewnątrzsoczewkowy elektronów wstecznie rozproszonych. (4 pkt)
j) Rozbudowany stolik mikroskopu umożliwiający umieszczenie co najmniej 10 próbek jednocześnie i wyposażony w adaptery do mocowania próbek (2 pkt).
k) Zaoferowanie najwyższej zdolności rozdzielczej EDS w trakcie obrazowania w warunkach niskiej próżni. (4 pkt)
l) Obudowy wytłumiające hałas pomp próżniowych lub pompy w obiegu wodnym. (3 pkt)
m) Możliwość rejestracji sekwencji filmowych oraz tworzenie animacji z serii zarejestrowanych obrazów pojedynczych. (2 pkt)
2. Dostawa oraz instalacja ma dobyć się w budowanym (w chwili ogłoszenia postępowania przetargowego) Budynku Centrum Nanotechnologii
Politechniki Gdańskiej. Termin rozpoczęcia instalacji może zostać zmieniony w wyniku zmiany terminu ukończenia budowy - szczegółowe wymagania zawarte są we wzorze umowy – załączniku nr 5 do SIWZ. W budynku gdzie instalowany będzie przedmiot zamówienia znajdują się drzwi o szerokości 130 cm. 3.
Wykonawca zapewnia minimum 24 miesięczną gwarancję – szczegółowe informacje zawarte są w załączniku nr 5 do SIWZ - wzorze umowy. 4. Nie dopuszcza się składania ofert wariantowych. Nie dopuszcza się składania ofert częściowych.

Date published
20/04/2012

OCID
ocds-0c46vo-0133-126134-2012
Categories (CPV)
38510000 - Microscopes

About Spend Network

Copyright 2020 Ticon UK Limited. Ticon is a UK company registered at Raincloud, Vincent Square, London, England, SW1P 2PD under company number 04962733.

  • Legal
  • Privacy
  • Support

More from Spend Network